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      高低溫試驗箱測試要求

      更新時間:2020-06-10點(diǎn)擊次數(shù):1481

      高低溫試驗箱測試要求

      低溫(低溫試驗箱)試驗?zāi)芰︱炞C方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗B:低溫(等同采用IEC:60068-2-1:Environmental testing:Part2-1:Tests-Tests A:Clod)。

      高溫(高溫試驗箱)試驗?zāi)芰︱炞C方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗B:高溫(等同采用IEC:60068-2-2:2:2007 Environmental testing:Part2-2:Tests-Tests B:Dry heat)。

      受試驗的樣品放置于試驗箱內(nèi),接通電源按要求進(jìn)行相關(guān)測試記錄實驗數(shù)據(jù)完成試驗。

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